O metodologie este de a urmări ruta de creștere a lățimii peste napolitena monocristalină de la 125mm la 156mm și de a crește dimensiunea modulului, cum ar fi pseudo-pătratul de 158,75mmmonocristalinnapolitane sau pătrat plinmonocristalinnapolitane (dimametru napolitane 223mm).158.75mmpătrat plinmonocristalinnapolitane (dimametru napolitane 223mm) mărește zona de napolitane cu aproximativ 3,1% comparativ cu formatul M2, ceea ce crește puterea unui modul de 60 de celule cu aproape 10Wp.
1 Proprietățile materialului
Proprietate | Specificație | Metoda de inspecție |
Metoda de creștere | CZ | |
Cristalinitatea | Monocristalin | Tehnici de gravare preferențiale（ASTM F47-88） |
Tipul de conductivitate | De tip P | Napson EC-80TPN P/N |
Dopant | Bor, galiu | - |
Concentrația de oxigen [Oi] | ≦8E+17 la / cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Concentrația de carbon [Cs] | ≦5E+16 la / cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Densitate groapă gravată (densitate dislocare) | ≦500 cm-3 | Tehnici de gravare preferențiale（ASTM F47-88） |
Orientarea suprafeței | & lt; 100> ± 3 ° | Metoda de difracție cu raze X (ASTM F26-1987) |
Orientarea laturilor pseudo-pătrate | & lt; 010> ;,< 001=""> ± 3 ° | Metoda de difracție cu raze X (ASTM F26-1987) |
2 Proprietăți electrice
Proprietate | Specificație | Metoda de inspecție |
Rezistivitate | 0,5-1,5 Ωcm | Sistem de inspectare a plachetelor |
MCLT (durata de viață a transportatorului minoritar) | ≧50 μs | Sinton BCT-400 (cu nivel de injecție: 1E15 cm-3) |
3Geometrie
Proprietate | Specificație | Metoda de inspecție |
Geometrie | Pătrat complet | |
Wafer Lungime laterală | 158,75 ± 0,25 mm | sistem de inspectare a napolitane |
Diametrul plăcii | φ223 ± 0,25 mm | sistem de inspectare a napolitane |
Unghiul dintre laturile adiacente | 90° ± 0.2° | sistem de inspectare a napolitane |
Grosime | 180﹢20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm | sistem de inspectare a napolitane |
TTV (Variația totală a grosimii) | ≤27 µm | sistem de inspectare a napolitane |
4 Proprietăți de suprafață
Proprietate | Specificație | Metoda de inspecție |
Metoda de tăiere | DW | -- |
Calitatea suprafeței | așa cum este tăiat și curățat, fără contaminare vizibilă (ulei sau grăsime, amprente, pete de săpun, pete de șlam, pete epoxidice / lipice nu sunt permise) | sistem de inspectare a napolitane |
Am văzut semne / pași | ≤ 15µm | sistem de inspectare a napolitane |
Arc | ≤ 40 µm | sistem de inspectare a napolitane |
Urzeală | ≤ 40 µm | sistem de inspectare a napolitane |
Chip | adâncime ≤0,3mm și lungime ≤ 0,5mm Max 2 / buc; fără cip V | Ochi goi sau sistem de inspecție a napolitane |
Micro fisuri / găuri | Nepermis | sistem de inspectare a napolitane |
Tag-uri populare: Wafer solar monocristalin tip pătrat, China, furnizori, producători, fabrică, fabricată în China
