4 inch (100 mm) Wafer

4 inch (100 mm) Wafer

Linia de produse Microelectronics include atât substraturi de polizat (SSP), cât și substraturi dublu lustruite (DSP). ● 4 tipuri de P, placă de silicon lustruit (25 bucăți) ● Orientare: 100 ● Rezistență: 0,1 - 40 Ohm ● cm (poate varia de la lot la lot) ● Grosime: 525 +/- 20um ● Prime / Monitor / Test
Share to
Trimite anchetă
Vorbeste acum
Descriere
Parametrii tehnici

【Introducerea Produsului】

Șapcă lustruită de 4 inch (100 mm) DSC01065 730


Șapcă lustruită de 4 inch (100 mm) DSC01070 730


PROPRIETATI MATERIALE

Parametru

Caracteristică

Metoda de control ASTM

Tip / de dopant

P, Boron N, Fosfor N, Antimon N, Arsenic

F42

orientari

<100>, <111> îndepărtează orientările conform specificațiilor clientului

F26

Conținutul de oxigen

10 18 ppmA Toleranțe personalizate la specificațiile clientului

F121

Conținutul de carbon

<0.5 ppma="" toleranțe="" personalizate="" la="" specificațiile="">

F123

Rezistența variază de la P, Boron-N, Fosfor-N, Antimoniu-N, Arsenic

0,001 - 50 ohm · cm
0,1 - 40 ohm · cm
0,005 - 0,025 ohm · cm
<0,005 ohm="">

F84

 

PROPRIETĂȚI MECANICE

Parametru

Prim

Monitor / Test A

Test

Metoda ASTM

Diametru

100 ± 0,2 mm

100 ± 0,2 mm

100 ± 0,5 mm

F613

Grosime

525 ± 20 μm (standard)

525 ± 25 μm (standard) 381 ± 25 μm 625 ± 25 μm 700 ± 25 μm 800 ± 25 μm 1000 ± 25 μm 1500 ± 25 μm

525 ± 50 μm (standard)

F533

TTV

<5>

<10>

<15>

F657

Arc

<30>

<30>

<40>

F657

Wrap

<30>

<30>

<40>

F657

Edge Rounding

SEMI-STD

F928

Marcare

SEMI-STD Flats, doar primar SEMI-Flat

F26, F671

  

CALITATEA SUPRAFEȚEI

Parametru

Prim

Monitor / Test A

Test

Metoda ASTM

Criteriile din partea frontală

Starea suprafeței

Chimic mecanic lustruit

Chimic mecanic lustruit

Chimic mecanic lustruit

F523

Densitatea de suprafață

<2 °="">

<2 °="">

<2 °="">


Contaminare, particule @> 0,3 μm

= 20

= 20

= 30

F523

Haze, Gropi, coaja de portocala

Nici unul

Nici unul

Nici unul

F523

Saw Marks, striatii

Nici unul

Nici unul

Nici unul

F523

Criteriile din partea din spate

Crăpături, zgarieturi, au văzut urme, pete

Nici unul

Nici unul

Nici unul

F523

Starea suprafeței

Caustic gravat

F523

  

【 Descrierea produsului 】

Linia de produse Microelectronics include atât substraturi de polizat (SSP), cât și substraturi dublu lustruite (DSP). Dublurile laterale lustruite sunt în mod obișnuit necesare în semiconductori, MEMS și alte aplicații în care sunt necesare plachete cu caracteristici de uniformitate controlate.

 

De asemenea, oferim piese dreptunghiulare și pătrate. Domeniul practic de realizare a lungimilor marginilor pentru plachetele de siliciu este de 5 x 5 mm2 ... 100 x 120 mm2 etc. Costul / piesa de vâsc depinde atât de material, cât și de numărul de bucăți de placă cerută.

 

Tăierea și lustruirea personalizate sunt, de asemenea, disponibile în funcție de cerințele dumneavoastră. Vă rugăm să nu ezitați să ne contactați.

 

【 Caracteristicile produsului 】

·          4 "tip P / N, placă de siliciu polizat (25 buc)

·          Orientare: 100

·          Rezistenta: 0,1 - 40 Ohm · cm (poate varia de la lot la lot)

·          Grosime: 525 +/- 20um

·          Prime / Monitor / Grad de încercare


Tag-uri populare: 4 inch (100mm) wafer, China, furnizori, producatori, fabrici, fabricate în China

Trimite anchetă
Trimite anchetă